粒度分布是粉體*的一種性質(zhì)，也是決定粉體行為與屬性的重要物理性質(zhì)。因此，在處理粉體時(shí)必須進(jìn)行粒度分布的分析。常用的粒度分析儀有
涂料粒度分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學(xué)沉積儀及X射線沉積儀等，其中涂料粒度分析儀測量方便快捷、重現(xiàn)性高，能很好的測出樣品的粒度分布曲線和集中度，越是球狀顆粒，測量的越，因而廣泛適用于材料、化工、精細(xì)陶瓷、造紙、化妝品、冶金等以顆粒物作為生產(chǎn)原料的行業(yè)。
實(shí)現(xiàn)對1um以下及寬粒徑范圍(幾十納米到幾千微米)的樣品的測量是涂料粒度分析儀的技術(shù)關(guān)鍵，概況起來，目前有以下幾種技術(shù)和光路配置被采用：
1、多透鏡技術(shù)
多透鏡系統(tǒng)曾在二十世紀(jì)八十年代前被廣泛采用，它使用傅里葉光路配置即樣品池放在聚焦透鏡的前方，配有多個(gè)不同焦距的透鏡以適應(yīng)不同的粒徑范圍。優(yōu)點(diǎn)是設(shè)計(jì)簡單，只需要分布于幾十度范圍的焦平面檢測器，成本較低。缺點(diǎn)是如果樣品粒徑范圍寬的時(shí)候需要更換透鏡，不同透鏡的結(jié)果需要拼合，對一些未知粒徑的樣品用一個(gè)透鏡測量時(shí)可能會(huì)丟失信號或?qū)τ谟捎诠に囎兓瘜?dǎo)致的樣品粒徑變化不能及時(shí)反映。
2、多光源技術(shù)
多光源技術(shù)也是采用傅里葉光路配置即樣品池在聚焦透鏡的前方，一般只有分布于幾十度角度范圍的檢測器，為了增大相對的檢測角度，使該檢測器能夠接收到小顆粒的衍射光信號，在相對于一光源光軸的不同角度上再配置一或第二激光器。這種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是只需分布于幾十度角度范圍的檢測器，成本較低，測量范圍特別是上限可以比較寬。若要同時(shí)幾微米以下小顆粒的測量，需要更換短焦距的聚焦透鏡。另外，多透鏡系統(tǒng)在測量樣品時(shí)，不同的激光器是依次開啟，而在干法測量時(shí)，由于顆粒只能一次性通過樣品池，只有一個(gè)光源能被用于測量，所以一般采用多透鏡技術(shù)的干法測量的粒徑下限很難低于250納米。
希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本分析儀。
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