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粒度分布測(cè)試的影響因素和方法介紹

發(fā)布日期：2019-09-11 瀏覽次數(shù)：9142

影響粒度分布測(cè)試的原因主要有以下幾種：

1. 取樣的均勻性：在取樣時(shí)可以采用均取法、錐形四分法和儀器縮分法；

2. 分散性：由于靜電和表面能作用，材料的細(xì)小顆粒會(huì)發(fā)生結(jié)團(tuán)，會(huì)很大程度的影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果；

3. 分散介質(zhì)：部分分散介質(zhì)會(huì)與樣品發(fā)生反應(yīng)，在測(cè)試前應(yīng)查閱相關(guān)資料，以此確保不會(huì)影響；

4. 儀器種類：測(cè)試的光源、測(cè)試器件的靈敏度和儀器的對(duì)于數(shù)據(jù)的處理方式都會(huì)影響其終的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

當(dāng)前主流的粒度分布測(cè)試儀有以下幾種：激光粒度儀（光散射等效原理），庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器（小孔電阻等效原理），圖像粒度分析儀（投影面積等效原理），沉降儀（沉降速度Stocks原理）。

激光粒度儀量程范圍一般可達(dá)0.1-1000微米。且其測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍大，是應(yīng)用普及的粒度儀。

庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)精度高，量程范圍一般為1-250微米，由于其測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍小，測(cè)量上限和下限也不足。主要應(yīng)用在樣品為窄分布的粉體行業(yè)。

圖像粒度分析儀，量程跟配置的顯微鏡性能直接相關(guān)。其同樣存在動(dòng)態(tài)范圍小，不適合測(cè)試寬分布樣品的不足之處。但是它可以進(jìn)行顆粒形貌分析，這一特性是其*的。

沉降儀的性能特點(diǎn)與激光粒度儀近似，但是它在測(cè)量速度和量程大小上落后于激光粒度儀，目前在大多數(shù)行業(yè)都被激光粒度儀所取代了。